VLSI 測試系統(tǒng)
如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: VLSI 測試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號: 3380D
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
50/100 MHz測試頻率
50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率
256數(shù)字信道管腳
并行測試可達256 sites同測數(shù)
32/64/128 M Pattern內(nèi)存
多樣彈性VI電源
彈性化硬件結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel Trim/Match功能
時序頻率測試單位 (TFMU)
AD/DA功能板卡 (16/24 bits) (可選配)
SCAN向量存儲深度(*高 2G bits/chain) (可選配)
ALPG測試選配供內(nèi)存IC用
STDF工具支持
測試程序/pattern轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
人性化Window 7操作系統(tǒng)
CRAFT C/C++ 程序語言
軟件接口與3380P/3360P相同
Direct mount治具
VLSI 測試系統(tǒng)
的詳細介紹
產(chǎn)品特色
-
50/100 MHz測試頻率
-
50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率
-
256數(shù)字信道管腳
-
并行測試可達256 sites同測數(shù)
-
32/64/128 M Pattern內(nèi)存
-
多樣彈性VI電源
-
彈性化硬件結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
-
Real parallel Trim/Match功能
-
時序頻率測試單位 (TFMU)
-
AD/DA功能板卡 (16/24 bits) (可選配)
-
SCAN向量存儲深度(*高 2G bits/chain) (可選配)
-
ALPG測試選配供內(nèi)存IC用
-
STDF工具支持
-
測試程序/pattern轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
-
人性化Window 7操作系統(tǒng)
-
CRAFT C/C++ 程序語言
-
軟件接口與3380P/3360P相同
-
Direct mount治具可相容于3360P probe-card
-
Cable mount治具可相容于3360D與3360P
為因應(yīng)未來IC芯片腳位數(shù)更多、速率更高、整合功能更為復(fù)雜的發(fā)展驅(qū)勢，Chroma VLSI測試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構(gòu)外，整合密度更高，且功能更強大。
3380D/3380P/3380機型為因應(yīng)高同測功能(High Parallel Test)，除內(nèi)建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外，更具備any-pins-to-any-site高同測功能(256數(shù)字信道管可并行測256個測試芯片)，以因應(yīng)未來IC芯片更高的測試需求。
3380D/3380P/3380系列同時具備機框式直流電源供應(yīng)的小型化、低耗能化設(shè)計及非常具競爭性的機臺性價比。
3380D VLSI測試系統(tǒng)非常適合應(yīng)用于IoT相關(guān)的芯片測試，尤其是一些具成本壓力的組件如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI測試系統(tǒng)3380D/3380P/3380系列開發(fā)至今，已在大中華地區(qū)被廣泛的采用。
滿足各種應(yīng)用范圍的芯片測試
如Logic, ADDA, RF(MCU), LED, Power, ALPG, Match等
