繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀

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產(chǎn)品名稱: 繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀

產(chǎn)品型號(hào): 19036

產(chǎn)品展商: Chroma

產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡(jiǎn)單介紹

五合一安規(guī)掃描分析儀 (交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、直流電阻、脈沖測(cè)試) 耐壓測(cè)試 (Hi-pot) 交流大AC 5kV / 直流大DC 6kV 高頻接觸檢查 (HFCC) 絕緣電阻測(cè)試(IR) *大5kV 直流電阻測(cè)量 (DCR) 直流電阻平衡功能 (DCR Balance) 脈沖測(cè)試 (IWT) 波形取樣率 (200MHz) 崩潰電壓分析模式的2種判定面積比較 (Area) 二次微分 (Laplacian) 測(cè)試模式的7種判定面積差比較 (Differential Area) 顫動(dòng)量偵測(cè) (Flutter) 二次微分 (Laplacian) 波峰差比 (ΔPeak%) 諧振面積比 (ΔResonant Area) 頻率差比 (Δ fr%) Δ/Y型直流電阻 (Δ/Y DCR) 脈沖測(cè)試比較 (IWT CMP) 高速接觸檢查 (HSC

繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀 的詳細(xì)介紹

產(chǎn)品特色

五合一安規(guī)掃描分析儀 (交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、直流電阻、脈沖測(cè)試)
耐壓測(cè)試 (Hi-pot)
- 交流*大AC 5kV / 直流*大DC 6kV
- 高頻接觸檢查 (HFCC)
絕緣電阻測(cè)試(IR)
- *大5kV
直流電阻測(cè)量 (DCR)
- 直流電阻平衡功能 (DCR Balance)
脈沖測(cè)試 (IWT)
- 波形取樣率 (200MHz)
- 崩潰電壓分析模式的2種判定
  - 面積比較 (Area)
  - 二次微分 (Laplacian)
- 測(cè)試模式的7種判定
  - 面積差比較 (Differential Area)
  - 顫動(dòng)量偵測(cè) (Flutter)
  - 二次微分 (Laplacian)
  - 波峰差比 (ΔPeak%)
  - 諧振面積比 (ΔResonant Area)
  - 頻率差比 (Δ fr%)
Δ/Y型直流電阻 (Δ/Y DCR)
脈沖測(cè)試比較 (IWT CMP)
高速接觸檢查 (HSCC)
開路檢查 (OSC)
支援3302/3252感量、Q值量測(cè) (選購)
- 電感 (Lx)
- 電感平衡 (Lx Balance)
人體接地保護(hù)功能 (GFI)
支援*多40通道掃描測(cè)試
USB資料儲(chǔ)存及畫面擷取功能
標(biāo)準(zhǔn)LAN、USB、RS232介面
操作介面 (英文、繁中、簡(jiǎn)中)

Chroma 19036為繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀結(jié)合了耐壓測(cè)試 (AC/DC)、絕緣電阻測(cè)量 (IR)、直流電阻測(cè)量 (DCR) 與脈沖測(cè)試( IWT) 于一臺(tái)單機(jī)，擁有耐壓測(cè)試*高AC 5kV/DC 6kV、絕緣電阻測(cè)量*高DC 5kV、四線式直流電阻測(cè)量范圍2mΩ~2MΩ與脈沖測(cè)試*高DC 6kV，且擁有10通道可執(zhí)行一次多個(gè)待測(cè)物的掃描測(cè)試，搭配外接通道掃描盒*多可達(dá)到40通道的多組掃描測(cè)試，能節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本，并大幅提升生產(chǎn)效率。